Skip to main

Concept information

优选词,正式主题词

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

范围注释,叙词含义说明

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

其它语言

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

下载此概念