Skip to main

Concept information

优选词,正式主题词

voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)  

上位概念

其它语言

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010

下载此概念