Concept information
XVIII SADAĻA - OPTISKĀS IERĪCES UN APARATŪRA, FOTO UN KINO IERĪCES UN APARATŪRA, MĒRIERĪCES UN KONTROLIERĪCES UN APARATŪRA, PRECĪZIJAS INSTRUMENTI UN IEKĀRTAS, MEDICĪNAS UN ĶIRURĢISKI INSTRUMENTI UN APARATŪRA; PULKSTEŅI; MŪZIKAS INSTRUMENTI; TO DAĻAS UN PIEDERUMI
90. NODAĻA - OPTISKĀS IERĪCES UN APARATŪRA, FOTO UN KINO IERĪCES UN APARATŪRA, MĒRIERĪCES UN KONTROLIERĪCES UN APARATŪRA, PRECĪZIJAS INSTRUMENTI UN IEKĀRTAS, MEDICĪNAS UN ĶIRURĢISKI INSTRUMENTI UN APARATŪRA; TO DAĻAS UN PIEDERUMI
9030 Osciloskopi, spektrometri un citi instrumenti un aparāti elektrisko lielumu mērīšanai vai kontrolei, izņemot pozīcijas 9028 ierīces; ierīces un aparatūra α, β, γ, rentgena, kosmiskā vai cita jonizējošā starojuma mērīšanai vai konstatēšanai
citādas ierīces un iekārtas
优选词，正式主题词
9030 82 00pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
其它语言
-
爱尔兰语
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
爱沙尼亚语
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
保加利亚语
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
波兰语
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
丹麦语
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
德语
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
法语
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
芬兰语
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
荷兰语
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
捷克语
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
克罗地亚语
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
立陶宛语
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
罗马尼亚语
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
马耳他语
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
葡萄牙语
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
瑞典语
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
斯洛伐克语
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
斯洛文尼亚语
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
希腊语
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
西班牙语
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
匈牙利语
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
-
意大利语
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
英语
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}