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优选词,正式主题词

9030 82 00zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)  

范围注释,叙词含义说明

  • Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen, auch integrierter Schaltungen

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URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

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