Skosmos: Products: naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

ODDELEK XVIII - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; URE; GLASBILA; NJIHOVI DELI IN PRIBOR > POGLAVJE 90 - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; NJIHOVI DELI IN PRIBOR > 9030 Osciloskopi, spektralni analizatorji in drugi instrumenti in aparati za merjenje ali kontrolo električnih veličin, razen merilnikov iz tarifne številke 9028; instrumenti in aparati za merjenje ali odkrivanje alfa, beta, gama, rentgenskih, kozmičnih ali drugih ionizirajočih sevanj > Drugi instrumenti in aparati > naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

Föredragen term

9030 82 00naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

Drugi instrumenti in aparati

naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

CN - Level 5 - CN subheadings (en)

Identifikation

903082000080

9030 82 00

За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)

bulgariska
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)

danska
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

engelska
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks

estniska
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

finska
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)

franska
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)

grekiska
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

iriska
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

italienska
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)

kroatiska
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

lettiska
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti

litauiska
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)

maltesiska
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)

nederländska
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)

polska
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

portugisiska
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)

rumänska
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)

slovakiska
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

spanska
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

svenska
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)

tjeckiska
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

tyska
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

ungerska
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Ladda ned detta begrepp:

RDF/XML TURTLE JSON-LD

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Föredragen term

Överordnat begrepp

Hänvisningstermer

Hör till indelningen

Identifikation

Notation

Termer på andra språk

URI

Ladda ned detta begrepp:

{{label}}

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Sök i vokabulär

Sidofältlista: ordna och bläddra begrepp efter kriterier

Lista begrepp alfabetiskt

Lista begrepp enligt hierarkin

Lista begrepp alfabetiskt

Begreppsinformation

Föredragen term

Överordnat begrepp

Hänvisningstermer

Hör till indelningen

Identifikation

Notation

Termer på andra språk

URI

Ladda ned detta begrepp:

{{label}}