Begreppsinformation
AFDELING XVI - MACHINES, TOESTELLEN EN ELEKTROTECHNISCH MATERIEEL, ALSMEDE DELEN DAARVAN; TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN GELUID, VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN BEELDEN EN GELUID VOOR TELEVISIE, ALSMEDE DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE TOESTELLEN
HOOFDSTUK 85 - ELEKTRISCHE MACHINES, APPARATEN, UITRUSTINGSSTUKKEN, ALSMEDE DELEN DAARVAN; TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN GELUID, TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN BEELDEN EN GELUID VOOR TELEVISIE, ALSMEDE DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE TOESTELLEN
8538 Delen waarvan kan worden onderkend dat zij uitsluitend of hoofdzakelijk bestemd zijn voor de toestellen bedoeld bij post 8535, 8536 of 8537
andere
Föredragen term
voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)
Överordnat begrepp
Underordnade begrepp
Hänvisningstermer
- voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)
Identifikation
- 853890110010
Termer på andra språk
-
bulgariska
-
За изпитвателните устройства (тестери) за полупроводникови пластини (wafers)
-
danska
-
Til waferprøvere
-
engelska
-
For wafer probers
-
estniska
-
plaadisondidele
-
finska
-
puolijohdekiekon mittauspäissä käytettävät
-
franska
-
pour testeurs de disques (wafers) à semi-conducteur
-
grekiska
-
Για δοκιμαστικά δίσκων (wafers) ημιαγωγών
-
iriska
-
do bhrathadóirí sliseoige
-
italienska
-
per sonde di dischi (wafers)
-
kroatiska
-
za sonde za ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera)
-
lettiska
-
pusvadītāju plašu taustiem
-
litauiska
-
Zondinių plokštelių bandiklių
-
maltesiska
-
Għal wafer probers
-
polska
-
Do urządzeń do testowania płytek półprzewodników
-
portugisiska
-
Para estações de teste de wafers semicondutores
-
rumänska
-
Pentru aparatele de verificare a discurilor de semiconductoare (wafers)
-
slovakiska
-
Na waferové sondy
-
slovenska
-
za rezinske sonde
-
spanska
-
De sondas de discos (wafers) de material semiconductor
-
svenska
-
Till kiselskivetestare
-
tjeckiska
-
Pro sondy polovodičových destiček
-
tyska
-
für Wafer-Prober
-
ungerska
-
alá tartozó félvezetőlemez-vizsgálóhoz
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}