Hoppa till innehållet

Sök i vokabulär

Innehållets språk

Begreppsinformation

Föredragen term

9030 82 00per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)  

Överordnat begrepp

Hänvisningstermer

  • per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Hör till indelningen

Identifikation

  • 903082000080

Notation

  • 9030 82 00

Termer på andra språk

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Ladda ned detta begrepp: