Skosmos: Products: puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

XVIII JAKSO - OPTISET, VALOKUVAUS-, ELOKUVA-, MITTAUS-, TARKISTUS-, TARKKUUS-, LÄÄKETIETEELLISET TAI KIRURGISET KOJEET JA LAITTEET; KELLOT; SOITTIMET; NIIDEN OSAT JA TARVIKKEET > 90 RYHMÄ - OPTISET, VALOKUVAUS-, ELOKUVA-, MITTAUS-, TARKISTUS-, TARKKUUS-, LÄÄKETIETEELLISET TAI KIRURGISET KOJEET JA LAITTEET; NIIDEN OSAT JA TARVIKKEET > 9030 Oskilloskoopit, spektrianalysaattorit ja muut sähkösuureiden mittaus- tai tarkkailukojeet ja -laitteet, ei kuitenkaan nimikkeen 9028 mittarit; alfa-, beeta-, gamma-, röntgen-, kosmisen tai muun ionisoivan säteilyn mittaus- tai toteamiskojeet ja -laitteet > muut kojeet ja laitteet > puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

Föredragen term

9030 82 00puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

muut kojeet ja laitteet

puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

CN - Level 5 - CN subheadings (en)

Identifikation

903082000080

9030 82 00

За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)

bulgariska
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)

danska
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

engelska
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks

estniska
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)

franska
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)

grekiska
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

iriska
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

italienska
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)

kroatiska
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

lettiska
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti

litauiska
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)

maltesiska
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)

nederländska
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)

polska
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

portugisiska
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)

rumänska
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)

slovakiska
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

slovenska
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

spanska
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

svenska
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)

tjeckiska
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

tyska
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

ungerska
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Ladda ned detta begrepp:

RDF/XML TURTLE JSON-LD

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Föredragen term

Överordnat begrepp

Hänvisningstermer

Hör till indelningen

Identifikation

Notation

Termer på andra språk

URI

Ladda ned detta begrepp:

{{label}}

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Sök i vokabulär

Sidofältlista: ordna och bläddra begrepp efter kriterier

Lista begrepp alfabetiskt

Lista begrepp enligt hierarkin

Lista begrepp alfabetiskt

Begreppsinformation

Föredragen term

Överordnat begrepp

Hänvisningstermer

Hör till indelningen

Identifikation

Notation

Termer på andra språk

URI

Ladda ned detta begrepp:

{{label}}