Hoppa till innehållet

Begreppsinformation

Föredragen term

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Hänvisningstermer

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Användningsanmärkning

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Hör till indelningen

Identifikation

  • 903082000080

Notation

  • 9030 82 00

Termer på andra språk

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Ladda ned detta begrepp: