Перейти к основному содержанию

Информация о концепции

Предпочитаемый термин

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

Концепция более широкого понятия

Термины

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Примечание

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

Принадлежит к массиву

Идентификатор

  • 903082000080

На других языках

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Скачать концепцию