Информация о концепции
AFDELING XVI - MACHINES, TOESTELLEN EN ELEKTROTECHNISCH MATERIEEL, ALSMEDE DELEN DAARVAN; TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN GELUID, VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN BEELDEN EN GELUID VOOR TELEVISIE, ALSMEDE DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE TOESTELLEN
HOOFDSTUK 85 - ELEKTRISCHE MACHINES, APPARATEN, UITRUSTINGSSTUKKEN, ALSMEDE DELEN DAARVAN; TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN GELUID, TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN BEELDEN EN GELUID VOOR TELEVISIE, ALSMEDE DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE TOESTELLEN
8538 Delen waarvan kan worden onderkend dat zij uitsluitend of hoofdzakelijk bestemd zijn voor de toestellen bedoeld bij post 8535, 8536 of 8537
andere
Предпочитаемый термин
voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)
Концепция более широкого понятия
Концепции более узкого понятия
Термины
- voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)
Идентификатор
- 853890110010
На других языках
-
английский
-
For wafer probers
-
болгарский
-
За изпитвателните устройства (тестери) за полупроводникови пластини (wafers)
-
венгерский
-
alá tartozó félvezetőlemez-vizsgálóhoz
-
греческий
-
Για δοκιμαστικά δίσκων (wafers) ημιαγωγών
-
датский
-
Til waferprøvere
-
ирландский
-
do bhrathadóirí sliseoige
-
испанский
-
De sondas de discos (wafers) de material semiconductor
-
итальянский
-
per sonde di dischi (wafers)
-
латышский
-
pusvadītāju plašu taustiem
-
литовский
-
Zondinių plokštelių bandiklių
-
мальтийский
-
Għal wafer probers
-
немецкий
-
für Wafer-Prober
-
польский
-
Do urządzeń do testowania płytek półprzewodników
-
португальский
-
Para estações de teste de wafers semicondutores
-
румынский
-
Pentru aparatele de verificare a discurilor de semiconductoare (wafers)
-
словацкий
-
Na waferové sondy
-
словенский
-
za rezinske sonde
-
финский
-
puolijohdekiekon mittauspäissä käytettävät
-
французский
-
pour testeurs de disques (wafers) à semi-conducteur
-
хорватский
-
za sonde za ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera)
-
чешский
-
Pro sondy polovodičových destiček
-
шведский
-
Till kiselskivetestare
-
эстонский
-
plaadisondidele
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}