Перейти к основному содержанию

Информация о концепции

Предпочитаемый термин

9030 82 00per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)  

Концепция более широкого понятия

Термины

  • per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Принадлежит к массиву

Идентификатор

  • 903082000080

На других языках

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Скачать концепцию