Перейти к основному содержанию

Информация о концепции

Предпочитаемый термин

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Концепция более широкого понятия

Термины

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Примечание

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Принадлежит к массиву

Идентификатор

  • 903082000080

На других языках

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Скачать концепцию