zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

За контрол на полупроводникови пластини (wafers) и прибори (включително интегрални схеми) или за контрол на фотомаски или междинни фотошаблони, използвани в процеса на производството на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)

za ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili poluvodičkih elemenata (uključujući integrirane krugove) ili za ispitivanje fotomaski ili mrežica koje se rabe u proizvodnji poluvodičkih elemenata (uključujući integrirane krugove)

Til kontrol af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb) eller til kontrol af fotomasker eller retikler, der anvendes ved fremstilling af halvlederkomponenter (herunder integrerede kredsløb)

Na kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov) alebo na kontrolu fotomasiek alebo ohniskových doštičiek používaných na výrobu polovodičových zariadení (vrátane integrovaných obvodov)

za nadzor polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja) ali za nadzor fotomask ali mrežic, ki se uporabljajo pri proizvodnji polprevodniških naprav (vključno integrirana vezja)

Para control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados), o para control de máscaras fotográficas o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) kontrollimiseks või pooljuhtseadiste (k.a integraallülituste) tootmisel kasutatavate fotomaskide või võrgustike kontrollimiseks

puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) tarkastamista tai puolijohdekomponenttien (myös integroidut piirit) valmistuksessa käytettävien maskien ja hiusristikoiden kuvioiden tarkastamista varten

pour le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés) ou pour le contrôle des masques photographiques ou des réticules utilisés dans la fabrication de dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)

Για τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων) ή για τον έλεγχο φωτοεπικαλύψεων ή δικτύων που χρησιμοποιούνται για την κατασκευή των ημιαγώγιμων διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)

voor het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen) of voor het verifiëren van fotomaskers of dradenkruisen gebruikt in de fabricage van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)

For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra (lena n-áirítear ciorcaid comhtháite) a iniúchadh nó chun fótamhaisc nó mioneangaí a úsáidtear i monarú gaireas leathsheoltóra a iniúchadh

per il controllo dei dischi (wafer) o dei dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati) o per il controllo delle fotomaschere o dei reticoli destinati alla fabbricazione di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) pārbaudei vai tādu fotomasku vai rastra pārbaudei, ko izmanto pusvadītāju ierīču (tostarp integrālo shēmu) ražošanā

Puslaidininkių plokštelėms ar įtaisams (įskaitant integrinius grandynus) tikrinti arba puslaidininkinių įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) gamyboje naudojamiems fotokaukėms arba fotooriginalų tinkleliams tikrinti

Biex jiġu spezzjonati l-wafers jew l-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati) jew biex jiġu spezzjonati l-fotomaskri jew ir-retikoli użati fil-manifattura tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)

Do sprawdzania płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone) lub do sprawdzania fotomasek lub siatek stosowanych do produkcji urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)

Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

Pentru controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate) sau pentru controlul fotomăștilor sau al reticulelor utilizate în fabricarea dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)

För kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar) eller för kontroll av sådana fotomasker eller hårkors som används vid tillverkning av halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Na kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů) nebo na kontrolu masek nebo ohniskových destiček používaných k výrobě polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)