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Informação do conceito

Termo preferencial

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Conceito superordenado

Termos não preferenciais

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Nota de âmbito

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Pertence ao conjunto coordenado

Identificador

  • 903082000080

Notação

  • 9030 82 00

Termos equivalentes

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

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