Ir para o conteúdo principal

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Pesquisar no vocabulário

Língua do conteúdo

Informação do conceito

AVDELNING XVIII - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; UR; MUSIKINSTRUMENT; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR > KAPITEL 90 - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR > 9030 Oscilloskop, spektrumanalysapparater samt andra instrument och apparater för mätning eller kontroll av elektriska storheter, med undantag av mätare enligt nr 9028; instrument och apparater för mätning eller påvisande av alfa-, beta-, gamma- eller röntgenstrålning, kosmisk strålning eller annan joniserande strålning > Andra instrument och apparater > För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Termo preferencial

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

Conceito superordenado

Termos não preferenciais

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Nota de âmbito

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

Pertence ao conjunto coordenado

Identificador

  • 903082000080

Notação

  • 9030 82 00

Termos equivalentes

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Descarregar este conceito:

RDF/XML TURTLE JSON-LD