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Informações sobre o conceito

Termo preferencial

9030 82 00per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)  

Conceito mais amplo

Termos alternativos

  • per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Pertence à lista

Identificador

  • 903082000080

Notação

  • 9030 82 00

Em outros idiomas

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

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