Skip to main

Wyszukaj ze słownictwa

Język zawartości

Concept information

Preferowany termin

9030 82 00Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)  

Terminy pojęciowe

  • Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

Należy do tablicy

Identyfikator

  • 903082000080

W innych językach

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Pobierz to pojęcie: