Skip to main

Wyszukaj ze słownictwa

Język zawartości

Concept information

Preferowany termin

9030 82 00per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)  

Terminy pojęciowe

  • per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Należy do tablicy

Identyfikator

  • 903082000080

W innych językach

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Pobierz to pojęcie: