Concept information
SECTION XVI - MACHINES ET APPAREILS, MATÉRIEL ÉLECTRIQUE ET LEURS PARTIES; APPAREILS D'ENREGISTREMENT OU DE REPRODUCTION DU SON, APPAREILS D'ENREGISTREMENT OU DE REPRODUCTION DES IMAGES ET DU SON EN TÉLÉVISION, ET PARTIES ET ACCESSOIRES DE CES APPAREILS
CHAPITRE 85 - MACHINES, APPAREILS ET MATÉRIELS ÉLECTRIQUES ET LEURS PARTIES; APPAREILS D'ENREGISTREMENT OU DE REPRODUCTION DU SON, APPAREILS D'ENREGISTREMENT OU DE REPRODUCTION DES IMAGES ET DU SON EN TÉLÉVISION, ET PARTIES ET ACCESSOIRES DE CES APPAREILS
8538 Parties reconnaissables comme étant exclusivement ou principalement destinées aux appareils des nos 8535, 8536 ou 8537
autres
Preferowany termin
pour testeurs de disques (wafers) à semi-conducteur
Pojęcie szersze
Pojęcia węższe
Terminy pojęciowe
- pour testeurs de disques (wafers) à semi-conducteur
Identyfikator
- 853890110010
W innych językach
-
angielski
-
For wafer probers
-
bułgarski
-
За изпитвателните устройства (тестери) за полупроводникови пластини (wafers)
-
chorwacki
-
za sonde za ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera)
-
czeski
-
Pro sondy polovodičových destiček
-
duński
-
Til waferprøvere
-
estoński
-
plaadisondidele
-
fiński
-
puolijohdekiekon mittauspäissä käytettävät
-
grecki
-
Για δοκιμαστικά δίσκων (wafers) ημιαγωγών
-
hiszpański
-
De sondas de discos (wafers) de material semiconductor
-
irlandzki
-
do bhrathadóirí sliseoige
-
litewski
-
Zondinių plokštelių bandiklių
-
łotewski
-
pusvadītāju plašu taustiem
-
maltański
-
Għal wafer probers
-
niderlandzki
-
voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)
-
niemiecki
-
für Wafer-Prober
-
polski
-
Do urządzeń do testowania płytek półprzewodników
-
portugalski
-
Para estações de teste de wafers semicondutores
-
rumuński
-
Pentru aparatele de verificare a discurilor de semiconductoare (wafers)
-
słowacki
-
Na waferové sondy
-
słoweński
-
za rezinske sonde
-
szwedzki
-
Till kiselskivetestare
-
węgierski
-
alá tartozó félvezetőlemez-vizsgálóhoz
-
włoski
-
per sonde di dischi (wafers)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}