Concept information
XVIII JAKSO - OPTISET, VALOKUVAUS-, ELOKUVA-, MITTAUS-, TARKISTUS-, TARKKUUS-, LÄÄKETIETEELLISET TAI KIRURGISET KOJEET JA LAITTEET; KELLOT; SOITTIMET; NIIDEN OSAT JA TARVIKKEET
90 RYHMÄ - OPTISET, VALOKUVAUS-, ELOKUVA-, MITTAUS-, TARKISTUS-, TARKKUUS-, LÄÄKETIETEELLISET TAI KIRURGISET KOJEET JA LAITTEET; NIIDEN OSAT JA TARVIKKEET
9030 Oskilloskoopit, spektrianalysaattorit ja muut sähkösuureiden mittaus- tai tarkkailukojeet ja -laitteet, ei kuitenkaan nimikkeen 9028 mittarit; alfa-, beeta-, gamma-, röntgen-, kosmisen tai muun ionisoivan säteilyn mittaus- tai toteamiskojeet ja -laitteet
muut kojeet ja laitteet
Preferowany termin
9030 82 00puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
Pojęcie szersze
Terminy pojęciowe
- puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
Należy do tablicy
Identyfikator
- 903082000080
W innych językach
-
angielski
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
bułgarski
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
chorwacki
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
czeski
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
duński
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
estoński
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
francuski
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
grecki
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
hiszpański
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
irlandzki
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
litewski
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
łotewski
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
maltański
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
niderlandzki
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
niemiecki
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
polski
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
portugalski
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
rumuński
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
słowacki
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
słoweński
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
szwedzki
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
węgierski
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
-
włoski
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}