Skip to main

Wyszukaj ze słownictwa

Język zawartości

Concept information

Preferowany termin

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Terminy pojęciowe

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Notka dotycząca zakresu

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Należy do tablicy

Identyfikator

  • 903082000080

W innych językach

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Pobierz to pojęcie: