Hopp til hovudinnhaldet

Søk i ordtilfang

Innhaldsspråk

Informasjon om omgrepet

Tilrådd term

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

Tilvisingsterm

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Note om bruk

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

Høyrer til inndeling

Identifikator

  • 903082000080

På andre språk

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Last ned dette omgrepet: