Hopp til hovudinnhaldet

Søk i ordtilfang

Innhaldsspråk

Informasjon om omgrepet

Tilrådd term

9030 82 00per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)  

Tilvisingsterm

  • per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Høyrer til inndeling

Identifikator

  • 903082000080

På andre språk

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Last ned dette omgrepet: