Hopp til hovudinnhaldet

Søk i ordtilfang

Innhaldsspråk

Informasjon om omgrepet

Tilrådd term

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Tilvisingsterm

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Note om bruk

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Høyrer til inndeling

Identifikator

  • 903082000080

På andre språk

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Last ned dette omgrepet: