Naar hoofdinhoud

Zoek in woordenlijst

Content-taal

Conceptinformatie

Voorkeursterm

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

Ingangstermen

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Bereiksnotitie

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

Behoort tot rij

Identifier

  • 903082000080

In andere talen

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Download dit concept: