Naar hoofdinhoud

Zoek in woordenlijst

Content-taal

Conceptinformatie

Voorkeursterm

9030 82 00Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)  

Ingangstermen

  • Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

Behoort tot rij

Identifier

  • 903082000080

In andere talen

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Download dit concept: