Skosmos: Products: pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

XVIII SADAĻA - OPTISKĀS IERĪCES UN APARATŪRA, FOTO UN KINO IERĪCES UN APARATŪRA, MĒRIERĪCES UN KONTROLIERĪCES UN APARATŪRA, PRECĪZIJAS INSTRUMENTI UN IEKĀRTAS, MEDICĪNAS UN ĶIRURĢISKI INSTRUMENTI UN APARATŪRA; PULKSTEŅI; MŪZIKAS INSTRUMENTI; TO DAĻAS UN PIEDERUMI > 90. NODAĻA - OPTISKĀS IERĪCES UN APARATŪRA, FOTO UN KINO IERĪCES UN APARATŪRA, MĒRIERĪCES UN KONTROLIERĪCES UN APARATŪRA, PRECĪZIJAS INSTRUMENTI UN IEKĀRTAS, MEDICĪNAS UN ĶIRURĢISKI INSTRUMENTI UN APARATŪRA; TO DAĻAS UN PIEDERUMI > 9030 Osciloskopi, spektrometri un citi instrumenti un aparāti elektrisko lielumu mērīšanai vai kontrolei, izņemot pozīcijas 9028 ierīces; ierīces un aparatūra α, β, γ, rentgena, kosmiskā vai cita jonizējošā starojuma mērīšanai vai konstatēšanai > citādas ierīces un iekārtas > pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

Voorkeursterm

9030 82 00pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

citādas ierīces un iekārtas

pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

CN - Level 5 - CN subheadings (en)

Identifier

903082000080

За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)

Bulgaars
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)

Deens
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

Duits
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Engels
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks

Estisch
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

Fins
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)

Frans
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)

Grieks
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

Hongaars
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

Iers
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Italiaans
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)

Kroatisch
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti

Litouws
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)

Maltees
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)

Nederlands
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)

Pools
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

Portugees
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)

Roemeens
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

Sloveens
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)

Slowaaks
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

Spaans
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)

Tsjechisch
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Zweeds
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Download dit concept:

RDF/XML TURTLE JSON-LD

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Voorkeursterm

Breder concept

Ingangstermen

Behoort tot rij

Identifier

In andere talen

URI

Download dit concept:

{{label}}

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Zoek in woordenlijst

Zijbalk: sorteer en blader door gefilterde woordenlijstonderdelen

Sorteer concepten alfabetisch

Sorteer concepten hiërarchisch

Concepten alfabetisch gesorteerd

Conceptinformatie

Voorkeursterm

Breder concept

Ingangstermen

Behoort tot rij

Identifier

In andere talen

URI

Download dit concept:

{{label}}