Conceptinformatie
SECTION XVIII - INSTRUMENTS ET APPAREILS D'OPTIQUE, DE PHOTOGRAPHIE OU DE CINÉMATOGRAPHIE, DE MESURE, DE CONTRÔLE OU DE PRÉCISION; INSTRUMENTS ET APPAREILS MÉDICO-CHIRURGICAUX; HORLOGERIE; INSTRUMENTS DE MUSIQUE; PARTIES ET ACCESSOIRES DE CES INSTRUMENTS OU APPAREILS
CHAPITRE 90 - INSTRUMENTS ET APPAREILS D'OPTIQUE, DE PHOTOGRAPHIE OU DE CINÉMATOGRAPHIE, DE MESURE, DE CONTRÔLE OU DE PRÉCISION; INSTRUMENTS ET APPAREILS MÉDICO-CHIRURGICAUX; PARTIES ET ACCESSOIRES DE CES INSTRUMENTS OU APPAREILS
9030 Oscilloscopes, analyseurs de spectre et autres instruments et appareils pour la mesure ou le contrôle de grandeurs électriques; instruments et appareils pour la mesure ou la détection des radiations alpha, bêta, gamma, X, cosmiques ou autres radiations ionisantes
autres instruments et appareils
Voorkeursterm
9030 82 00pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
Breder concept
Ingangstermen
- pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
Bereiksnotitie
- Instruments et appareils pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur, y.c. les circuits intégrés
Behoort tot rij
Identifier
- 903082000080
In andere talen
-
Bulgaars
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
Deens
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
Duits
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
Engels
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
Estisch
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
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Fins
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
Grieks
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
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Hongaars
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
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Iers
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
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Italiaans
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
Kroatisch
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
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Lets
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
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Litouws
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
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Maltees
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
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Nederlands
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voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
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Pools
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Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
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Portugees
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Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
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Roemeens
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Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
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Sloveens
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naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
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Slowaaks
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
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Spaans
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
Tsjechisch
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
Zweeds
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
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