Naar hoofdinhoud

Zoek in woordenlijst

Content-taal

Conceptinformatie

Voorkeursterm

9030 82 00zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)  

Ingangstermen

  • zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

Bereiksnotitie

  • Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen, auch integrierter Schaltungen

Identifier

  • 903082000080

In andere talen

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Download dit concept: