Skosmos: Products: chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

ROINN XVIII - IONSTRAIMÍ AGUS GAIRIS OPTÚLA, FHÓTAGRAFACHA, CHINEAMATAGRAFACHA, TOMHAIS, SEICEÁLA, BHEACHT-TOMHAIS, LEIGHIS NÓ MHÁINLIACHTA; CLOIG AGUS UAIREADÓIRÍ; UIRLISÍ CEOIL; PÁIRTEANNA AGUS GABHÁLAIS DÍOBH > CAIBIDIL 90 - UIRLISÍ AGUS GLÉASRA OPTÚIL, FÓTAGRAFACH, CINEAMATAGRAFACH, TOMHAIS, SEICEÁLA, BEACHT-TOMHAIS, MÍOCHAINE NÓ MÁINLIACHTA; PÁIRTEANNA AGUS GABHÁLAIS DÍOBH > 9030 Ascalascóip, anailíseoirí speictrim agus ionstraimí agus gléasra eile chun cainníochtaí leictreachais a thomhas nó a sheiceáil, gan na méadair faoi cheannteideal 9028; uirlisí agus gléasra chun radaíocht ianúcháin alfa, béite, gáma, X-ghathach, chosmach nó radaíocht ianúcháin eile a thomhas nó a bhrath > Uirlisí agus gairis eile > chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

Anbefalt term

9030 82 00chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

Uirlisí agus gairis eile

chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

CN - Level 5 - CN subheadings (en)

Identifikator

903082000080

За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)

bulgarsk
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)

dansk
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

engelsk
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks

estisk
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

finsk
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)

fransk
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)

gresk
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

italiensk
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)

kroatisk
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

latvisk
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti

litauisk
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)

maltesisk
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)

nederlandsk
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)

polsk
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

portugisisk
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)

rumensk
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)

slovakisk
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

slovensk
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

spansk
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

svensk
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)

tsjekkisk
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

tysk
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

ungarsk
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Last ned dette begrepet:

RDF/XML TURTLE JSON-LD

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Anbefalt term

Overordnede begreper

Henvisningsterm

Hører til inndeling

Identifikator

På andre språk

URI

Last ned dette begrepet:

{{label}}

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Søk fra vokabular

Sidefelt: navigér i vokabularet på ulike måter

List opp begreper alfabetisk

List opp begreper hierarkisk

Alfabetisk liste over begreper

Begrepsinformasjon

Anbefalt term

Overordnede begreper

Henvisningsterm

Hører til inndeling

Identifikator

På andre språk

URI

Last ned dette begrepet:

{{label}}