Hopp til hovedinnholdet.

Søk fra vokabular

Innholdsspråk

Begrepsinformasjon

Anbefalt term

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Overordnede begreper

Henvisningsterm

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Note om bruk

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Hører til inndeling

Identifikator

  • 903082000080

På andre språk

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Last ned dette begrepet: