Skip to main

Cerca nel vocabolario

Lingua dei contenuti

Concept information

Termine preferito

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

Concetto più generale

Nota esplicativa

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

Appartiene all'array

Identificatore

  • 903082000080

In altre lingue

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Scarica questo concetto