Concept information
ODDELEK XVIII - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; URE; GLASBILA; NJIHOVI DELI IN PRIBOR
POGLAVJE 90 - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; NJIHOVI DELI IN PRIBOR
9030 Osciloskopi, spektralni analizatorji in drugi instrumenti in aparati za merjenje ali kontrolo električnih veličin, razen merilnikov iz tarifne številke 9028; instrumenti in aparati za merjenje ali odkrivanje alfa, beta, gama, rentgenskih, kozmičnih ali drugih ionizirajočih sevanj
Drugi instrumenti in aparati
Termine preferito
9030 82 00naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
Concetto più generale
Appartiene all'array
Identificatore
- 903082000080
In altre lingue
-
bulgaro
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
ceco
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
croato
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
danese
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
estone
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
finlandese
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
francese
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
greco
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
inglese
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
irlandese
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
italiano
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
lettone
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
lituano
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
maltese
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
olandese
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
polacco
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
portoghese
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
rumeno
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
slovacco
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
spagnolo
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
svedese
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
tedesco
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
ungherese
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}