Concept information
XVIII SKYRIUS - OPTIKOS, FOTOGRAFIJOS, KINEMATOGRAFIJOS, MATAVIMO, TIKRINIMO, TIKSLIEJI, MEDICINOS ARBA CHIRURGIJOS PRIETAISAI IR APARATAI; LAIKRODŽIAI; MUZIKOS INSTRUMENTAI; JŲ DALYS IR REIKMENYS
90 SKIRSNIS - OPTIKOS, FOTOGRAFIJOS, KINEMATOGRAFIJOS, MATAVIMO, TIKRINIMO, TIKSLIEJI, MEDICINOS ARBA CHIRURGIJOS PRIETAISAI IR APARATAI; JŲ DALYS IR REIKMENYS
9030 Osciloskopai, spektro analizatoriai ir kiti kiekybinių elektros charakteristikų matavimo arba tikrinimo prietaisai ir aparatai, išskyrus skaitiklius, priskiriamus 9028 pozicijai; alfa, beta, gama, rentgeno, kosminės arba kitos jonizuojančiosios spinduliuotės matavimo arba registravimo prietaisai ir aparatai
Kiti prietaisai ir aparatai
Termine preferito
9030 82 00Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
Concetto più generale
Appartiene all'array
Identificatore
- 903082000080
In altre lingue
-
bulgaro
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
ceco
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
croato
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
danese
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
estone
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
finlandese
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
francese
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
greco
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
inglese
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
irlandese
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
italiano
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
lettone
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
maltese
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
olandese
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
polacco
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
portoghese
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
rumeno
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
slovacco
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
sloveno
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
spagnolo
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
svedese
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
tedesco
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
ungherese
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}