Concept information
SECÇÃO XVIII - INSTRUMENTOS E APARELHOS DE ÓTICA, DE FOTOGRAFIA, DE CINEMATOGRAFIA, DE MEDIDA, DE CONTROLO OU DE PRECISÃO; INSTRUMENTOS E APARELHOS MÉDICO-CIRÚRGICOS; ARTIGOS DE RELOJOARIA; INSTRUMENTOS MUSICAIS; SUAS PARTES E ACESSÓRIOS
CAPÍTULO 90 - INSTRUMENTOS E APARELHOS DE ÓTICA, DE FOTOGRAFIA, DE CINEMATOGRAFIA, DE MEDIDA, DE CONTROLO OU DE PRECISÃO; INSTRUMENTOS E APARELHOS MÉDICO-CIRÚRGICOS; SUAS PARTES E ACESSÓRIOS
9031 Instrumentos, aparelhos e máquinas de medida ou controlo, não especificados nem compreendidos noutras posições do presente Capítulo; projetores de perfis
Outros instrumentos e aparelhos óticos
Terme préférentiel
9031 41 00Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Concept générique
Variante
- Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Appartient au tableau
Identifiant
- 903141000080
Traductions
-
allemand
-
zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
anglais
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For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)
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bulgare
-
За контрол на полупроводникови пластини (wafers) и прибори (включително интегрални схеми) или за контрол на фотомаски или междинни фотошаблони, използвани в процеса на производството на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
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croate
-
za ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili poluvodičkih elemenata (uključujući integrirane krugove) ili za ispitivanje fotomaski ili mrežica koje se rabe u proizvodnji poluvodičkih elemenata (uključujući integrirane krugove)
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danois
-
Til kontrol af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb) eller til kontrol af fotomasker eller retikler, der anvendes ved fremstilling af halvlederkomponenter (herunder integrerede kredsløb)
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espagnol
-
Para control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados), o para control de máscaras fotográficas o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
estonien
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) kontrollimiseks või pooljuhtseadiste (k.a integraallülituste) tootmisel kasutatavate fotomaskide või võrgustike kontrollimiseks
-
finnois
- [voir toutes les 46 valeurs]
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903141000080
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