Passer au contenu principal

Choisissez le vocabulaire dans lequel chercher

Langue des données

Concept information

Terme préférentiel

voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)  

Concept générique

Variante

  • voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)

Identifiant

  • 853890110010

Traductions

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010

Télécharger ce concept :