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Langue des données

Concept information

Terme préférentiel

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Variante

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Note d'application

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Appartient au tableau

Identifiant

  • 903082000080

Traductions

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

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