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Langue des données

Concept information

Terme préférentiel

9030 82 00zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)  

Variante

  • zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

Note d'application

  • Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen, auch integrierter Schaltungen

Appartient au tableau

Identifiant

  • 903082000080

Traductions

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

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