За контрол на полупроводникови пластини (wafers) и прибори (включително интегрални схеми) или за контрол на фотомаски или междинни фотошаблони, използвани в процеса на производството на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)

For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

Para control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados), o para control de máscaras fotográficas o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

voor het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen) of voor het verifiëren van fotomaskers of dradenkruisen gebruikt in de fabricage van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)

chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra (lena n-áirítear ciorcaid comhtháite) a iniúchadh nó chun fótamhaisc nó mioneangaí a úsáidtear i monarú gaireas leathsheoltóra a iniúchadh

per il controllo dei dischi (wafer) o dei dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati) o per il controllo delle fotomaschere o dei reticoli destinati alla fabbricazione di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Για τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων) ή για τον έλεγχο φωτοεπικαλύψεων ή δικτύων που χρησιμοποιούνται για την κατασκευή των ημιαγώγιμων διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)