Hyppää sisältöön

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Hae sanastosta

Sisällön kieli

Käsitteen tiedot

AVDELNING XVIII - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; UR; MUSIKINSTRUMENT; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR > KAPITEL 90 - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR > 9030 Oscilloskop, spektrumanalysapparater samt andra instrument och apparater för mätning eller kontroll av elektriska storheter, med undantag av mätare enligt nr 9028; instrument och apparater för mätning eller påvisande av alfa-, beta-, gamma- eller röntgenstrålning, kosmisk strålning eller annan joniserande strålning > Andra instrument och apparater > För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Käytettävä termi

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

Yläkäsite

Ohjaustermit

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Käyttöhuomautus

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

Kuuluu jaotteluun

Tunniste

  • 903082000080

Notaatio

  • 9030 82 00

Muunkieliset termit

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Lataa tämä käsite:

RDF/XML TURTLE JSON-LD