Käsitteen tiedot
ODDELEK XVIII - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; URE; GLASBILA; NJIHOVI DELI IN PRIBOR
POGLAVJE 90 - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; NJIHOVI DELI IN PRIBOR
9030 Osciloskopi, spektralni analizatorji in drugi instrumenti in aparati za merjenje ali kontrolo električnih veličin, razen merilnikov iz tarifne številke 9028; instrumenti in aparati za merjenje ali odkrivanje alfa, beta, gama, rentgenskih, kozmičnih ali drugih ionizirajočih sevanj
Drugi instrumenti in aparati
Käytettävä termi
9030 82 00naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
Yläkäsite
Ohjaustermit
- naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
Kuuluu jaotteluun
Tunniste
- 903082000080
Notaatio
- 9030 82 00
Muunkieliset termit
-
bulgaria
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
englanti
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
espanja
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
hollanti
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
iiri
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
italia
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
kreikka
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
kroatia
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
latvia
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
liettua
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
malta
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
portugali
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
puola
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
ranska
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
romania
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
ruotsi
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
saksa
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
slovakki
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
suomi
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
tanska
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
tšekki
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
unkari
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
-
viro
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}