Hyppää sisältöön

Hae sanastosta

Sisällön kieli

Käsitteen tiedot

Käytettävä termi

voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)  

Yläkäsite

Ohjaustermit

  • voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)

Tunniste

  • 853890110010

Muunkieliset termit

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010

Lataa tämä käsite: