Hyppää sisältöön

Hae sanastosta

Sisällön kieli

Käsitteen tiedot

Käytettävä termi

9030 82 00per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)  

Ohjaustermit

  • per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Kuuluu jaotteluun

Tunniste

  • 903082000080

Notaatio

  • 9030 82 00

Muunkieliset termit

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Lataa tämä käsite: