Hyppää sisältöön

Hae sanastosta

Sisällön kieli

Käsitteen tiedot

Käytettävä termi

pour testeurs de disques (wafers) à semi-conducteur  

Yläkäsite

Ohjaustermit

  • pour testeurs de disques (wafers) à semi-conducteur

Tunniste

  • 853890110010

Muunkieliset termit

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010

Lataa tämä käsite: