Hyppää sisältöön

Hae sanastosta

Sisällön kieli

Käsitteen tiedot

Käytettävä termi

9030 82 00Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)  

Ohjaustermit

  • Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

Käyttöhuomautus

  • Instrumentos y aparatos para medida o control de obleas "wafers" o dispositivos, semiconductores

Kuuluu jaotteluun

Tunniste

  • 903082000080

Notaatio

  • 9030 82 00

Muunkieliset termit

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Lataa tämä käsite: