Hyppää sisältöön

Hae sanastosta

Sisällön kieli

Käsitteen tiedot

Käytettävä termi

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Ohjaustermit

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Käyttöhuomautus

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Tunniste

  • 903082000080

Notaatio

  • 9030 82 00

Muunkieliset termit

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Lataa tämä käsite: