Skip to main

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

جست‌وجو در واژگان

زبان محتوا

Concept information

AVDELNING XVIII - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; UR; MUSIKINSTRUMENT; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR > KAPITEL 90 - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR > 9030 Oscilloskop, spektrumanalysapparater samt andra instrument och apparater för mätning eller kontroll av elektriska storheter, med undantag av mätare enligt nr 9028; instrument och apparater för mätning eller påvisande av alfa-, beta-, gamma- eller röntgenstrålning, kosmisk strålning eller annan joniserande strålning > Andra instrument och apparater > För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

اصطلاح مرجح

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

مفهوم اعم

اصطلاح‌های مدخل

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

یادداشت دامنه

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

از آن آرایه است.

شناسه

  • 903082000080

در زبان های دیگر

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

این مفهوم را بارگیری کن:

RDF/XML TURTLE JSON-LD