Skip to main

Search from vocabulary

Lengua del contenido

Concept information

Término preferido

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

Etiquetas alternativas

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Nota de alcance

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

En otras lenguas

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Descargue este concepto: