Skip to main

Search from vocabulary

Lengua del contenido

Concept information

Término preferido

9030 82 00zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)  

Etiquetas alternativas

  • zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

Nota de alcance

  • Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen, auch integrierter Schaltungen

En otras lenguas

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Descargue este concepto: